ネジマイクロメータによる主な測定誤差
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よくあるご質問Q&A

ネジマイクロメータによる主な測定誤差

マイクロメーターを使用したミクロンオーダーの検査・測定の際は下記の点について注意ください。

ネジマイクロメータによる主な測定誤差

誤差の原因 起こり得る
最大誤差
誤差除去のための注意事項 注意しても除去できない
と考える誤差
マイクロメータの送り誤差 3μm 1.補正して使用する ±1μm
測定子の
角度誤差
半角誤差を
15分として
±5μm
1.角度誤差を測定の上補正する
2.被測定物と同一の絵時ゲージで調整する
半角測定誤差を見込み
±3μm
測定子の
食い違いによる
+10μm +3μm
測定力による
影響
±10μm 1.できれば低測定力のものを使用する
2.必ずラチェットストップを使用する
±3μm
総合測定誤差 (±117+40)μm 発生しえると考えられる誤差の集積値 +26μm
-12μm

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